目的 探索一种基于双重差分和边界伪影抑制的新型双频对称电阻抗断层成像(EIT)算法，用于消除人头阻抗分布不完全对称的影响，显著提升对称差分EIT(SDEIT)算法的实际成像效果。方法 在SDEIT算法的基础上，提出双频再差分的方式消除正常人头组织不对称引起的成像伪影，并进一步提出边界区域抑制成像方法，实现边界区域伪影抑制，从而全面提高SDEIT的成像准确性。结果 仿真实验结果表明，在真实颅脑组织阻抗分布下，新算法对于不同位置、不同体积和不同类型的脑卒中病灶均能有效检出，且成像效果明显优于传统的SDEIT算法。结论 本文提出的新型SDEIT算法有效解决了真实颅脑阻抗不完全对称分布导致的传统SDEIT算法成像不准确的问题，为EIT应用于实际脑卒中快速检测奠定了良好的算法基础。