目的 观察液氮损伤诱发局灶性皮质发育不良模型大鼠大脑皮质中谷氨酸(Glu)及N-甲基-D-天冬氨酸受体1(NMDAR1)、谷氨酸受体2(GluR2)的表达，探讨其表达情况与癫痫发作的关系及可能的发病机制。方法 纳入36只大鼠，随机分成正常对照组、假手术组及手术组，创建局灶性皮质发育不良大鼠模型，HE染色，免疫组织化学方法(用SABC法)检测微脑回神经递质及受体变化，使用SAS 8.0统计学软件进行数据分析。结果 手术组经液氮铜针处理，在大鼠损伤处形成微脑回畸形，畸形处皮质层Glu及NMDAR1、GluR2免疫阳性着色神经元表达较正常组及假手术组有所增多，光密度值比较差异无统计学意义(P>0.05),然而在微脑回皮质周围见到Glu及NMDAR1、GluR2免疫阳性着色神经元表达较正常组及假手术组有显著增加，光密度值比较差异亦有统计学意义(P<0.05),其他海马及杏仁核等脑区没有明显改变。结论 微脑回畸形周围兴奋性神经递质Glu及其受体的增加可能是导致癫痫发生的机制之一。