目的 探讨2种pH值环境下钴铬合金、含钛镍铬合金、纯钛3种活动义齿常用支架金属的电化学腐蚀性能,为临床选择支架材料提供参考。方法 以pH值6.75和5.5的人工唾液模拟口腔环境,使用电化学方法、X射线衍射仪获得3种金属腐蚀前后的电化学参数、物相数据,比较三者的耐腐蚀性和表面稳定性。结果 2种pH值环境下,含钛镍铬合金和钴铬合金记录到典型的Tafel曲线,而纯钛未能获得。含钛镍铬合金的腐蚀电位值明显负于钴铬合金,腐蚀电流更大,差异有统计学意义(P<0.05)。三者的衍射图腐蚀前后皆一致,无物质结构改变。结论含钛镍铬合金的电化学腐蚀倾向最大,钴铬合金较小,纯钛最稳定。