折射率是描述物体光学性质的重要参数，在医疗、制药、材料加工和视觉显示等领域具有广泛的应用。传统干涉测量方法主要局限于微观领域，宏观物体尺寸大，对光学环境要求高，因此鲜见其相位分布与折射率研究，从而限制了对宏观材料光学性质的系统性探索。本研究提出了一种基于光场图像的全息相位恢复方法，利用光场相机记录信息，结合数字全息技术和卷积神经网络生成相位分布图，从而实现折射率的精确测量。相较于传统技术，该方法在光学环境适应性和系统复杂度控制上具有明显优势，为宏观物体的光学特性研究提供了新的视角与解决方案，为未来利用光场全息技术研究材料特性提供了方法指导，具有重要的研究意义与实际应用价值。