感光层厚度对a-GaO_x基日盲紫外光电探测器的性能影响研究

常鼎钧, 李赜明, 张赫之

吉林大学学报(信息科学版) ›› 2024, Vol. 42 ›› Issue (03) : 567-572. DOI: 10.19292/j.cnki.jdxxp.2024.03.014

感光层厚度对a-GaO_x基日盲紫外光电探测器的性能影响研究

  • 常鼎钧, 李赜明, 张赫之
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摘要

为制备高性能日盲紫外光电探测器,采用低温金属有机物化学气相沉积方法制备了非晶氧化镓薄膜。通过对薄膜结构特性测试证明了薄膜的非晶特性,并且薄膜表面较为平坦,光学吸收边位于深紫外波段范围内。在此基础上,研制了日盲紫外光电探测器。随非晶氧化镓感光层厚度由33.2 nm增至133.6 nm,探测器的光电流和暗电流均提升了2个数量级,并且响应度和外量子效率均随感光层厚度提升而增大,探测器的响应度和外量子效率的最大值分别达到2.91 A/W和1 419.12%。探测器的厚度依赖特性可归因于界面高缺陷层、光吸收强度以及探测器的几何参数。此外,探测器展现出良好的波长选择性以及时间分辨响应稳定性。

关键词

非晶氧化镓 / 日盲紫外探测 / 厚度依赖特性 / 金属有机物化学气相沉积

中图分类号

TN23

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常鼎钧, 李赜明, 张赫之. 感光层厚度对a-GaO_x基日盲紫外光电探测器的性能影响研究. 吉林大学学报(信息科学版). 2024, 42(03): 567-572 https://doi.org/10.19292/j.cnki.jdxxp.2024.03.014

基金

国家自然科学基金资助项目(62104024)

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