基于ACFM的厚涂层下裂纹检测技术优化

隋涛, 焦权明, 李昀恒, 张双楠

沈阳理工大学学报 ›› 2025, Vol. 44 ›› Issue (04) : 36-42.

基于ACFM的厚涂层下裂纹检测技术优化

  • 隋涛, 焦权明, 李昀恒, 张双楠
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摘要

针对现有交流电磁场检测(ACFM)技术对10 mm以上涂层的金属工件裂纹缺陷检测灵敏度低的问题,提出一种优化磁路的ACFM方法。通过有限元仿真软件建立厚涂层下ACFM仿真模型,分析不同检测频率和磁轭跨度在10 mm提离高度下缺陷信号的变化规律,选取最优探头参数组合以改变磁路。搭建检测系统进行实验验证,结果表明:采用仿真得到的探头参数组合,检测系统可实现对10 mm厚涂层下工件表面缺陷的有效检出;当涂层厚度大于4 mm时,选用30 mm跨度磁轭比选用10 mm跨度磁轭显示出更高的检测灵敏度,表明研究结果对10 mm以上厚涂层ACFM检测的开展具有参考价值。

关键词

交流电磁场检测 / 检测频率 / 磁轭跨度 / 提离高度 / 有限元

中图分类号

TG115.28

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隋涛, 焦权明, 李昀恒, 张双楠. 基于ACFM的厚涂层下裂纹检测技术优化. 沈阳理工大学学报. 2025, 44(04): 36-42

基金

辽宁省教育厅高等学校基本科研项目(JYTMS20230199)

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