基于运算放大器的集成电路测试系统设计实验

苟轩, 黄敏, 刘科

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实验科学与技术 ›› 2025, Vol. 23 ›› Issue (02) : 54-61+89.

基于运算放大器的集成电路测试系统设计实验

  • 苟轩, 黄敏, 刘科
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摘要

针对当前集成电路测试人才匮乏和本科教学中运算放大器参数讲解不充分的问题,提出了围绕运算放大器多种参数的测试系统设计实验。该实验是以学生为主导的综合设计型实验,包括测试适配器设计、自动测试软件开发两门递进式课程。给出3种典型运算放大器参数的测试电路,分析了这些参数相互作用时对测量准确度的影响,并提出降低影响的方法以及多种参数及多个量程程控切换电路的设计方法,以满足自动测试需求。经验证,测试系统产生的实验结果与运算放大器手册中声明的参数范围一致。该实验包含集成电路自动测试系统完整设计流程,不仅为学生提供了硬件电路、嵌入式软件、上位机软件等实践设计平台,还锻炼了其系统级设计思维。

关键词

运算放大器 / 自动测试系统 / 测试适配器 / 实践教学

中图分类号

TN722.77 / TN407

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苟轩, 黄敏, 刘科. 基于运算放大器的集成电路测试系统设计实验. 实验科学与技术. 2025, 23(02): 54-61+89

基金

2024年第一批次产学合作协同育人项目(231003084073047,231102278092204)

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