基于多应力加速退化的机载电子部件可靠性试验方法

基于多应力加速退化的机载电子部件可靠性试验方法

王鹏, 田润操, 杜洪光, 丛玮, 张帆, 于光, 杨吕珊

J Civil Aviation Univ Chin . 2024, (05): 1 -8 .